TSE-542拼接一鍵閃測儀 全自動大視野影像儀 拼接一鍵閃測儀 全自動大視野影像儀
閃測儀采用雙遠心光學系統,結合高精度圖像拼接測量算法。能快速測量產品的平面尺寸和形位公差,測量效率是傳統影像儀器的10-20倍。大視野影像閃測、高精度、全自動測量,錄入測量程序后,只需把工件放置到有效測量區域,然后輕輕按一鍵測量,自動匹配測量。
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2025-11-04 - 02
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